Стеремикроскоп Leica EZ4 для работы в отраженном или проходящем свете и возможностью беспроводной передачи изображения. Оснащен надежной LED системой освещения, обеспечивающий долгий срок службы.

Новый сканирующий электронный микроскоп четвертого поколения JSM-IT710HR серии "HR". Серия разработана для минимизации манипуляции электронно-оптических параметров оператором в целях достижения наибольшего разрешения за счет высокой автомизации процессов настройки и улучшенной производительности благодаря новому детектору.

Новая модель со встроенной EDS системой для проведения быстрого элементного анализа. Jeol JSM-IT210 разработан с нацеливанием на автоматизацию процессов наблюдения, исследования и анализа благодаря новой функциональности "Simple SEM".

Jeol JSM-IT800 обеспечит высокое разрешение и быстрое картирование элементов благодаря электронной пушки Шоттки Плюс. Система имеет функцию Neo Engine для контроля электронно-оптической системы, а также функцию SEM Сenter для ускоренного картирования элементов. Система допускает смену объективных лиз для удовлетворения различных задач. JSM-IT800 доступен в 5 вариациях.

JSM-IT700HR изготовлен для получения высокого разрешения до 1 нм. При наличии дополнительных систем способен к проведению энергодисперсионной (EDS), волнодисперсионной (WDS) спектроскопий, а также к анализу дифракции обратнорассеянными электронами (EBSD). Поддержка низкого вакуума обеспечит надежное исследование нетокопроводящих образцов.

Модель разработана не только для решения исследовательских задач, а также для производства и контроля качества. Помимо возможности оснащением EDS, можно также установить WDS и EBSD системы. Новая функция Simple SEM сделает процесс по настройке устрайтва перед работой как можно более автоматизированным.

Бюджетный вариант из серии InTouchScope заключащий в себе все самое необходимое для рутиных исследований. Может быть дополнительно оснащен энергодисперсионной системой для проведения элементного анализа и картирования при низком вакууме.

Компактный, настольный, сканирующий электронный микроскоп Jeol JCM-7000 NeoScope обеспечит быстрый процесс исследования и анализа микроструктуры, а также контроля качества. Поддерживает низкий вакуум.

Новый аналитический просвечивающий электронный микроскоп Jeol JEM-F200 с холодной полевой эмиссией позволит получить еще большее разрешение, а также раскроет более широкие возможности для анализа. Микроскоп может быть оснащен улучшенной эмиссионной пушкой с холодным полем (cold FEG).

Один из самых доступных по бюджету, универсальный просвечивающий электронный микроскоп Jeol JEM-2100Plus для исследований в различных областях от материаловедения до медицины и биологии. Jeol JEM-2100Plus оснащен проверенной и надежной оптической системой JEM-2100.

Jeol JEM-2200FS - это современный аналитический просвечивающий электронный микроскоп с полевой эмиссией и ускоряющим напряжением до 220 кВ. ПЭМ имеет Омега фильтр для минимизации потери качества изображения и обеспечения большого контраста. Дополнительно возможна установка EDS системы.

Jeol JEM-1400Flash является универсальным просвечивающим электронным микроскопом, который можно использовать для исследования различных материлов, таких как сплавы, полимеры, биоматериалы и др. Устройство использует специально разработанную камеру "Matataki Flash" для лучшей работы на высоких частотах сканирования, а также специальные возможности для получения и анализа результатов.

Цифровой микроскоп Leica DVM6 — это универсальное решение, которое поможет получить ценную информацию во время исследования образцов, сосредоточиться на работе благодаря удобному управлению и повысить надежность результатов за счет воспроизводимости измерений.

Поляризационные микроскопы DM750 P, DM2700 P и DM4 P предназначены для исследования материалов в поляризованном свете, отличающих высокой степенью анизотропии, в частности минералов, пластмасс, полимеров, лекарств, фармацевтических препаратов, а также пигментов, текстиля и цемента. Кроме того, к моделям DM 2700P и DM4 могут быть установлены специальные модули для анализа угля, микросхем, полупроводников, а также решения задач в области криминалистики.

Исследовательские системы Leica DM8000 и DM12000 разработаны для исследований в области микроэлектроники. Системы имеют возможность макронаблюдения за образцами. Они оснащены специальным моторизованным предметным столиком для кремниевых пластин и светодиодным ультрафиолетовым осветителем для улучшения контраста изображения.

Микроскоп Leica DM750 M это одно из лучших решений по соотношению цены и качества. DM750 M подходит для лабораторий пробоподготовки, рутинных исследований или использования в образовательных учреждениях. Наблюдения могут быть осуществлены в светлом поле, поляризованном свете, а также с использованием уникального метода косого освещения.

Модульные стереомикроскопы серии М125, M165, M205 — передовое решение в модельном ряду Leica. Запатентованная оптическая система Fusion Optics объединяет высокое разрешение и максимальную глубину резкости в одном приборе и формирует трехмерное изображение наблюдаемого образца.

Модульные стереомикроскопы серии М50, M60, M80 от Leica — правильный выбор для решения рутинных задач в области биологических наук и промышленного применения. Стереомикроскопы серии М были разработаны как индивидуальные решения для операторов, работающих в лабораториях или на производстве.

Для производителей и поставщиков, которые хотят повысить эффективность контроля и исследования образцов. Оптимизируйте визуальный осмотр, получая при этом надежные и стабильные результаты с помощью стереомикроскопов Ivesta 3

Цифровой микроскоп Emspira 3 предназначен для пользователей, которым в первую очередь необходимы простота и скорость. Благодаря встроенной цифровой камере и отсутствию окуляров для получения изображения достаточно лишь подключить монитор. Программное обеспечение будет функционировать без персонального компьютера