Сканирующий электронный микроскоп Jeol JSM-IT200 InTouchScope

Бюджетный вариант из серии InTouchScope заключащий в себе все самое необходимое для рутиных исследований. Может быть дополнительно оснащен энергодисперсионной системой для проведения элементного анализа и картирования при низком вакууме.

Область применения:
Биология・Материаловедение・Медицина・Микроструктурные исследования・Фармакология・Элементный анализ
Var
Запросить цену
  • Заголовок

<section>

Сканирующий электронный микроскоп Jeol JSM-IT200 InTouchScope

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп Jeol JSM-IT200 InTouchScope является оптимальным бюджетным вариантом сочетающий в себе все самое необходимое для рутиных исследований. Устройство легко настраивается для работы благодаря интуитивно разработанной системе контроля: создание вакуума, ввод катода в рабочее состояние, регуляция тока пучка без расфокусировки благодаря телескопической конденсорной линзе, минимизация негативного влияния от астигматизма.

Данная модель работает как в режимах обратнорассеянных, так и вторичных электронов и может достигать высоких разрешений больших областей сканирования, а также при исследовании образцов на рабочих дистанциях до 10 мм.

Дополнительно устройство может быть оснащено системой EDS для получения данных по элементному составу в ходе работы при низком вакууме.

Особенности:

  • Упрощенная навигация, заключающаяся в переходе от видимого участка на небольшом увеличении к требуемому с высоким за счет функции Zeromag
  • Автоматическая настройка фокуса, контраста, яркости и стигматора одним нажатием кнопки
  • Элементный анализ и картирование при помощи дополнительного энергодисперсионного спектрометра
  • Валидация идентификации элементов благодаря функции Visual Peak ID (VID)
  • Анализ результатов и составление отчетов посредством ПО Smile View Lab
  • Фильтр минимизации шума в реальном времени для увеличения точности данных по элементному распределению
  • Продуманная система контроля и регулировки дрейфа
  • 3D топография SEM снимков
  • Получение анаглифных изображений
  • Сохранение всех параметров на снимке

Характеристики:

  • Разрешение (выский вакуум): до 3 нм
  • Разрешение (низкий вакуум): до 4 нм
  • Ускоряющее напряжение: 0.5 - 30 кВ
  • Ток пучка: от 1 пА до 300 нА
  • Катод: вольфрамовый
  • Угол наклона: от -10° до 90°
  • Вращение: 360°
  • Вакуумная система: форвакуумный насос, турбомолекулярный насос

Дополнительные принадлежности

  • Энергодисперсионный спектрометр (EDS)
  • Детектор диффракции отраженных электронов
  • Система катодолюминесценции

</section>

Дополнительные материалы

No items found.
Сканирующие ( растровые ) электронные микроскопы
Сканирующий электронный микроскоп Jeol JSM-IT200 InTouchScope
Запросить цену

Похожие товары