<section>
Сканирующий электронный микроскоп Jeol JSM-IT800 с полевой эмиссией Шоттки
Сканирующий электронный микроскоп оборудован специальной пушкой с полевой эмиссией Шоттки и доступен в 5 конфигурациях:
- с гибридной линзой, в качестве электронного микроскопа для общих задач
- две вариации с супергибридной лизой, для наблюдения с высоким разрешением
- две вариации с полулинзой для полупроводников
JSM-IT800 может быть оборудован:
- новым сцинтилляторным детектором с поддрежкой дифракции обратнорассеянных электронов (SBED) для получения высокого контраста при низких ускоряющих напряжениях. Подходит для исследования биологических материалов, магнитных материалов, металлов и сплавов.
- универсальным детектором с поддрежкой дифракции обратнорассеянных электронов (VBED) для контрастирования областей по элементному составу и 3D топографии.
- EDS системой
- WDS системой
- системой мягкой рентгеновской спектроскопии (только для вариций с гибридными линзами)
- Dry SD детектор для анализа элементов от Be до U
- ПО для монтажа, 3D изображения, формирования анализа и отчетов
- дополнительными детекторами для захвата электронов
Пушка с полевой эмиссией Шоттки Плюс
Эмиссионная пушка имеет специальную конденсорную линзу для борьбы с абберациями и высоким током зонда при низких ускоряющих напряжениях с целью достижения высокого разрешения, ускоренного анализа элементного картирования, EBSD анализа и спектроскопии с минимальным требованием манипуляции параметров.
Характеристики:
- Разрешение*: 0.5 нм
- Ускоряющее напряжение: от 0.01 до 30 кВ
- Увеличение: до ×2 000 000
- Ток пучка: до 300 нА
- Режимы наблюдения: обратнорассеянные электроны, вторичные электроны
- Электронная пушка: полевая эмиссия Шоттки Плюс
- Предметный столик: моторизированный, 5-осевой
- Максимальный диаметра образца: 170 мм (стандарт), 200 мм (опция)
- Максимальная высота образца: 45 мм (стандарт), 55 мм (опция)
- Угол: от - 5° до 70°
- Вращение: 360°
- Низкий вакуум: опция
* Опция
** В зависимости от вариации модели
</section>